• JMTS-816磁光克尔效应测量系统高灵敏磁强计磁性测量

    磁光克尔效应测量系统高灵敏磁强计磁性测量 非接触式测量,是一种无损测量系统;可以测量同一样品厚度不等的楔形磁性薄膜。

    厂商性质:生产厂家 点击量:1073 更新日期:2024-07-23
  • JMTS-816测量系统磁光效应原理分辨率(δ)0.001度

    测量系统磁光效应原理分辨率(δ)0.001度 起偏/检偏器:格兰-汤普森棱镜,外径25.4mm,通光孔径10mm,消光比5*10^-5,角度范围14~16°,波长范围350~2300nm。

    厂商性质:生产厂家 点击量:1092 更新日期:2024-07-24
  • JMTS-816磁光克尔效应测量系统磁学测量仪器

    磁光克尔效应测量系统磁学测量仪器 可测试材料:记录磁头,磁性薄膜,特殊磁介质,磁场传感器 。

    厂商性质:生产厂家 点击量:1285 更新日期:2024-07-24
  • JMTS-816磁光克尔效应测量系统磁强计样品磁性测量

    磁光克尔效应测量系统磁强计样品磁性测量 广泛应用于诸如磁性纳米技术、自旋电子学、磁性薄膜、磁性随机存储器、GMR/TMR等磁学领域。

    厂商性质:生产厂家 点击量:1183 更新日期:2024-07-26
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